金屬顆粒的識別是清潔度分析的重要要求。近年來(lái),金屬顆粒的光學(xué)檢測通常是通過(guò)光澤度進(jìn)行的。根據實(shí)驗室經(jīng)驗,我們發(fā)現光學(xué)顯微鏡分析通常會(huì )導致錯誤的分類(lèi),這可以通過(guò)使用掃描電鏡光反射的檢測方法進(jìn)行材料分析,輕松避免金屬顆粒的誤識別。
金屬顆粒的光學(xué)顯微鏡檢測是基于光反射進(jìn)行的,要求濾膜上的金屬顆粒要反光發(fā)亮,包含亮點(diǎn)的顆粒被分類(lèi)為金屬雜質(zhì)。在所有其他情況下,該顆粒被視為非金屬雜質(zhì)。
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